JEOL JSM-IT510 InTouchScope™
JEOL JSM-IT510 InTouchScope™
Steigende Anforderungen erfordern stetige Weiterentwicklung. Daher wurde basierend auf der erfolgreichen Baureihe der JEOL InTouchScope ™ REMs das JSM-IT510 entwickelt. Die neue High-Brightness-Kathode ermöglicht hochaufgelöste Abbildung und schnelle Analytik bei hoher Sensitivität und räumlicher Auflösung. Mit dem JEOL eigenen integrierten EDX-System ist erstmals echte Live-Elementaranalyse möglich.
Mit seinen erweiterten EDX-Analysefunktionen ist das InTouchScope ein vielseitig einsetzbares „Arbeitspferd“, das individuelle Laboranforderungen zu einem außergewöhnlichen Preis-Leistungs-Verhältnis erfüllt. Es verfügt über höchste Bildauflösung und kontinuierlich einstellbare Beschleunigungsspannungen sowohl im Hoch- als auch im Niedervakuum-Modus.
Durch die intuitive Bedienung des JSM-IT510 lassen sich Arbeitsabläufe einfach optimieren. Die Steuerung kann über Maus und Tastatur oder auf Wunsch auch mittels Bedienpanel oder Touchscreen erfolgen. Durch die schnelle Datenerfassung werden Aufnahmen und Analysen zu einfachen Aufgaben.
Dank automatischer Parameter-Optimierung können mit dem IT510 schnell und einfach Sekundär- und Rückstreuelektronen-Bilder aufgenommen werden. Das integrierte JEOL EDX-System mit Live-Analyse umfasst u.a. spektrales Mapping, Mehrpunktanalyse, automatische Driftkompensation, Linien-Scans und Filterfunktionen für Elementverteilungsbilder. Das moderne REM ermöglicht sogar die Echtzeitdarstellung von dreidimensionalen Abbildungen / Topographien mit überlagerten chemischen Verteilungsbildern (Live 3D-EDX-Maps).
Merkmale
Das neue JSM-IT510 ergänzt die beliebten JEOL InTouchScope™ REMs von JEOL.
Steigern Sie Ihre Produktivität durch die vollintegrierte Softwarelösung – nonstop von der Probennavigation über die Analyse bis zur Berichterstellung.
- Neue High-brightness Feldemissions-Elektronenquelle für hochauflösende Abbildung und Analytik "Zeromag"-Funktion: Probennavigation einfacher denn je.
- ZeroMag
- LiveEDX ermöglicht erstmal Elementanalyse in Echtzeit parallel zur Bildaufnahme.
- Weiter Druckbereich ohne mechanisches/händisches Umschalten
Von Hochauflösung im Hochvakuum bis hin zum flexiblen Niedervakuumbereich bis 650 Pa Druck zur Abbildung ausgasender oder schlecht leitfähiger Proben: Das IT510 kann ohne manuelles Eingreifen per Knopfdruck den Kammerdruck passgenau einstellen. Der Bildfeldbereich bleibt dabei unverändert groß. - Neuer Rückstreuelektronendetektor mit Live-3D-Funktion
Durch den segmentierten BSE-Detektor können nicht nur die bekannten Topo-, Compo- und Shadow-Modi verwendet werden, sondern auch 3D-Oberflächen in Echtzeit erzeugt werden. Auf diese „Landschaft“ können – ebenfalls in Echtzeit – EDX-generierte Maps überlagert werden. So lassen sich unebene Oberflächen hervorragend abbilden und interpretieren. - Integriertes Datenmanagement: Einfachste Berichterstattung aller aufgenommenen Daten.
- Einfache und effiziente Bedienung - vom Probeneinbau bis zur Bildaufnahme.
- Die neu entwickelte „Auto Beam Alignment“-Funktion sorgt stets für ideale elektronenoptische Bedingungen.
- Große Probenbühne für Proben aller Art kompakte Bauweise mit kleiner Stellfläche.
Optionen
- Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor (LSED)
Hybrider Niedervakuum-Sekundärelektronen-Detektor zur Detektion von Kathodolumineszenz (CL) - Energiedispersives Röntgenspektrometer (EDX)
- Wellenlängendispersives Röntgenspektrometer (WDS)
- Elektronenrückstreu-Beugung (EBSD)
- Probenschleuse
- Probennavigations-Kamera (Stage Navigation System SNS)
- Live-Kamera
- Bedienpult
- 3D-Software
Spezifikationen
Auflösung (HV) |
3.0 nm (30 kV) 15.0 nm (1.0 kV) |
Auflösung (LV) |
4.0 nm (30 kV BED) |
Vergrößerung |
x 5 bis x 300,000 |
Elektronenquelle | Wolfram (W) Filament |
Beschleunigungsspannung |
0.3 kV bis 30kV |
Probenstrom | 1 pA bis 1 μA |
Niedervakuum-Druckbereich | 10 bis 650 Pa |
Automatikfunktionen | Filament-Justage, Strahl-Ausrichtung, |
Maximale
Probengröße | 200 mm Durchmesser, 75 mm Höhe (80 mm Höhe / 90 mm Höhe mit optionalem Halter) |
Bühnen-Spezifikationen
| Große euzentrische Probenbühne |
Rezeptfunktion | Standart inklusive EDX |
Bildmodi | Sekundärelektronenabbildung, gefilterte Abbildung, Rückstreu-Abbildung (Komposition/Topographie), Stereomikroskopische Abbildung, etc. |
EDX Funktion | Spektralanalyse, qualitative und quantitative Analyse, Linienanalyse (horizontale und frei definierbare Linienrichtungen), Element-Mapping sowie Probenverfolgung |
Bitte beachten Sie:
Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.